校準(zhǔn)項(xiàng)目：包括外觀及工作正常性檢查、參考晶體振蕩器頻率、信號(hào)發(fā)生模塊（射頻輸出頻率、射頻輸出電平、諧波、非諧波、單邊帶相位噪聲、數(shù)字調(diào)制質(zhì)量、占用帶寬、鄰道功率比、頻譜發(fā)射模板）、信號(hào)分析模塊（射頻功率測量、數(shù)字調(diào)制質(zhì)量參數(shù)測量、占用帶寬測量、鄰道功率比測量、頻譜發(fā)射模板測量）和射頻端口（電壓駐波比）等。
校準(zhǔn)條件：確保環(huán)境溫度在23℃±5℃，相對(duì)濕度≤80%，供電電源穩(wěn)定，并避免電磁干擾和機(jī)械振動(dòng)。
校準(zhǔn)用設(shè)備：使用參考頻標(biāo)、頻率計(jì)數(shù)器、功率計(jì)、矢量信號(hào)發(fā)生器、信號(hào)發(fā)生器、頻譜分析儀、測量接收機(jī)、矢量信號(hào)分析儀和網(wǎng)絡(luò)分析儀等專業(yè)設(shè)備進(jìn)行校準(zhǔn)。
校準(zhǔn)方法：采用連續(xù)波組合法或白噪聲法進(jìn)行數(shù)字調(diào)制質(zhì)量參數(shù)測量；使用功率計(jì)或測量接收機(jī)直接測量射頻輸出電平；利用矢量信號(hào)分析儀直接測量誤差矢量幅度等。
校準(zhǔn)結(jié)果表達(dá)：校準(zhǔn)后，出具包含實(shí)驗(yàn)室信息、被校對(duì)象描述、校準(zhǔn)日期、依據(jù)規(guī)范、測量標(biāo)準(zhǔn)溯源性、環(huán)境描述、校準(zhǔn)結(jié)果及不確定度說明等內(nèi)容的校準(zhǔn)證書。
復(fù)校時(shí)間間隔：推薦為1年，但用戶可根據(jù)使用情況自行確定復(fù)校時(shí)間間隔24。
不確定度評(píng)定：對(duì)射頻輸出頻率、射頻輸出電平、誤差矢量幅度和射頻功率測量等項(xiàng)目進(jìn)行不確定度評(píng)定，確保校準(zhǔn)結(jié)果的準(zhǔn)確性和可靠性。
